產(chǎn)品分類Product
Ｑ２ ＩＯN直讀火花光譜儀
1．Q2采用了技術(shù)—平面視場(chǎng)CCD光學(xué)系統(tǒng)，在光柵的色散作用下,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測(cè)器上，使得檢測(cè)器的每個(gè)像素點(diǎn)都得以充分的利用，從而獲取***清晰的分析譜圖，同時(shí)，源自Bruker AXS技術(shù)平臺(tái)的譜圖解析技術(shù)采用特殊的計(jì)算方法，能夠有效去除譜圖中的背景及干擾信號(hào)，從而獲得的分辨率，該技術(shù)使得Q2顛覆了傳統(tǒng)的Paschen-Runge 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，確保儀器在保持緊湊的體積同時(shí)具有強(qiáng)大的分析性能。
2．Q2 采用了一代的CCD檢測(cè)器，目前市場(chǎng)上同類產(chǎn)品所采用的CCD檢測(cè)器在分析紫外元素時(shí)，均需鍍膜，而鍍膜具有一定壽命， 在一段時(shí)間以后將直接影響儀器的分析性能，而Q2采用的為非鍍膜CCD，從而不受鍍膜壽命的影響。
3．Q2光學(xué)系統(tǒng)采用了動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償技術(shù)（AAC），該技術(shù)采用特殊的材料和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得儀器可以有效補(bǔ)償因溫度變化而造成的光室熱脹冷縮現(xiàn)象，從而保持焦距的恒定。確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有優(yōu)異的穩(wěn)定性。
實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)分析用發(fā)射光譜儀 Ｑ２ＩＯＮ
Bruker新一代的火花直讀光譜儀Q2 ION將金屬材料的分析便捷性和簡(jiǎn)易性帶入了一個(gè)新的領(lǐng)域。Q2 ION是現(xiàn)今市場(chǎng)上***為輕巧的高性能直讀光譜儀, Q2功能強(qiáng)大,可同時(shí)配備多種基體,是來料檢驗(yàn)和成品分析的選擇.同時(shí)儀器相對(duì)低廉的價(jià)格定位及低的維護(hù)成本,使其在中小企業(yè)中備受青睞.
Q2 ION在大多數(shù)基體如鐵鋁銅的應(yīng)用中覆蓋了所有重要的合金元素。對(duì)于某些中小鑄造企業(yè)，金屬加工廠，質(zhì)量管理部門，原料倉庫，金屬回收企業(yè)，甚至檢測(cè)機(jī)構(gòu)，Q2無疑是選擇。
Q2 ION的獨(dú)特設(shè)計(jì)使其重量只有不到20kg，可輕易攜帶到附近的場(chǎng)地進(jìn)行檢測(cè)。另外，用戶還可選配專門的行李箱以方便儀器的攜帶。盡管重量輕，Q2在構(gòu)造上堅(jiān)固耐用，可適應(yīng)各種復(fù)雜場(chǎng)所的檢測(cè)要求。整個(gè)分析過程輕松便捷，只需將樣品放置于火花臺(tái)上激發(fā)，30秒內(nèi)即可獲取所有元素的含量信息。
Q2 ION所采用的平面CCD光學(xué)系統(tǒng)，無疑是光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和機(jī)械加工技術(shù)的大師級(jí)杰作，Q2還采用了動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，從而確保在10至45度的外界溫度下也具有的穩(wěn)定性。高清晰度CCD檢測(cè)器以及[譜圖解析技術(shù)使得儀器的分析性能更上一個(gè)臺(tái)階。
儀器參數(shù)：
非渡膜CCD檢測(cè)器，具有***低的暗電流
平面光柵
波長(zhǎng)覆蓋范圍：170-685nm
分辨率：30pm
氬氣驅(qū)氣以確保光通量。
譜圖解析技術(shù)
動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償系統(tǒng)，確保在10至45度的外界溫度下具有的穩(wěn)定性
分析方法組件：
可應(yīng)用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類型
可適應(yīng)未來升級(jí)需要
激發(fā)源
免維護(hù)，兩相ＰＷＭ激發(fā)源
頻率５０－１０００Ｈｚ
火花臺(tái)
免維護(hù)
檢測(cè)期間氬氣消耗２．５ｌ／ｍｉｎ
軟件
基于Ｗｉｎｄｏｗｓ的操作軟件
分級(jí)用戶權(quán)限
定性及定量分析
操作軟件含分析數(shù)據(jù)庫及辦公軟件接口
牌號(hào)庫功能
電源
１００－２４０Ｖ（５０／６０Ｈｚ）
檢測(cè)期間２００Ｗ，待機(jī)時(shí)５０Ｗ
１６Ａ慢融保險(xiǎn)絲或２５Ａ慢融保險(xiǎn)絲
尺寸
長(zhǎng)Ｘ寬ｘ高：４４０ｍｍＸ３９０ｍｍＸ２２０ｍｍ
重量：１９ｋｇ．
